HZ530 近場探頭

HZ530是探測射頻電磁場理想的工具包，在產品開發階段的設計定型之前，它是電磁幹擾預認證測試不可缺少的工具。全套包括三個手持探頭，探頭內部安裝了前置放大器，頻率範圍從100kHz至1000MHz。

三個探頭分別是, 一個是磁場探頭，一個是電場探頭，還有一個是高阻抗探頭。它們都可以與頻譜分析儀或射頻接收機的50Ω輸入阻抗器匹配的，探頭所用電源可以由乾電池，或鎳鎘電池提供，也可以通過電源線由HM5005/5006/5010/5011/5012/5014/系列頻譜儀供給。

信號是通過1.5m BNC電纜饋送，當探頭與頻譜儀或測量接收機連用時，探頭可用於探測電磁幹擾源，以及評估電路板和樣機試驗階段的電磁相容問題。它們還可以幫助使用者估算出發射熱點，並作為加遮罩後的性能比較。對電纜和元部件的機械遮罩和抗幹擾的效果測試也很容易量度到。

磁場探極

磁場探頭為連接的測量系統提供了一個正比於探頭所在位置射頻磁場強度的電壓，用這種探頭在彼此極其接近的地方可以探測線路射頻源。磁場強度與射源距離的立方成反比（H=1/d3）這裏d代表距離，當距離加倍時。磁場強度將減小八分之一。

在磁場探測器的實際使用中，當接近幹擾源時，探頭的輸出電壓迅速增加。在研究線路板時，幹擾源是淺而易見的。

很容易區分那個器件（如IC）引起幹擾，那些不引起幹擾。另外，配合頻譜分析儀的使用，以頻率為函數的最大幅度很容易便能辨別。因此我們可以在產品開發中早期發現不適用於電磁相容的元器件而加以改進。改進措施的效果也極易判斷。我們還可以用它研究遮罩的洩漏和電纜電線的傳導幹擾。

高阻抗探極

高阻探頭(Hi-Z)適用於測量個別觸點或印製電路導線上的射頻幹擾(RFI)，它是一種直接接觸的探極。這種探頭有很高的阻抗(接近印製電路板材料的絕緣電阻)，並且在測試點僅載入2pF(80Ω在1GHz時)。因此我們能用探頭直接對電路進行測量，而不對電路造成明顯的影響。

例如我們能夠測量濾波器或其他元件的定量效果。集成塊的各個腳可以各自看成射頻幹擾源。在印製電路板上，個別有問題的路徑可以被辨別出來。用高阻探頭測試電路板時，探極可以連接至50Ω阻抗的頻譜分析儀。

電場單極性探極

電場探頭在三種探頭中靈敏度最高，它的靈敏度足以被用作無線電或電視接收的天線。用這種探頭可以測量一個電路或一台設備的輻射。

例如，利用該探極確定遮罩效果。濾波器的總體效果可以通過檢驗沿設備外引的電纜傳導的射頻幹擾（RFI）而且可判斷是否影響整個輻射場。另外電場探頭在鑒定測試中可以用作比較測量。應用補償抑制測量，使再鑒定結果得以肯定。同時可以為鑒定測試進行預先測試，使其在鑒定測試時，不會遇到意外。