TR-518FE 电子基板测试仪器

TR-518FE是德律科技继成功推出TR-518F之后,运用更先进之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治 具投资上均可因此而大大降低成本。

强大的软体作业环境  
视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易  
电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式  
电脑自动隔离点选择功能,自动判断信号源及信号流入方向  
可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式  
完整测试统计资料及报表产生,且自动储存,不因断电而遗失数据  
系统具自我诊断功能及远端遥控功能  
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修  
 
完善的硬体架构设计
高科技半导体CMOS Switching设计,无寿命限制,待测物安全性最高
操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式
大型主机设计,高密度SwitchingBoard,最高可达3584测试点
可加装调整装置具动态调整功能
多重安全性设计,确实保障操作人员
 
先进的测试技术整合
率先引进TestJet Technology技术,检测SMT元件开路空焊问题,效果最佳
应用IC Clamping Diode技术,可辅助检测 BGA 开路空焊问题
辅助学习模组可检测IC反向问题
漏电流量测方式可辅助检测电容极性达50-60%
选项功能强大,可针对不同之测试需求,加装如频率量测、电压量测、电流量测
具备1MHZ信号源,可精确量测小电容小电感

具三点量测模式,可量测电晶体FET、SCR等元件,并可对Photo-Coupler提供四 点量测,确实检测上述元件 之反插问题

具Pin Contact检查功能

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